В Центре коллективного пользования научным оборудованием Научно-образовательного центра "Физика твердотельных наноструктур" имеется как оборудование, внесенное в государственный реестр средств измерений (имеют свидетельства об утверждении типа средств измерений), так и уникальное научное оборудование.

Измерения, выполняемые на оборудовании центра, проводятся по методикам, соответствующим ГОСТ Р 8.563-96 "Методики выполнения измерений". Ряд разработанных в Центре методик уникален для России, другие же выполняются в соответствии с руководствами по эксплуатации оборудования, имеющего утвержденный тип средств измерений.

Методики исследований:

Аттестованные методики измерений

1. Методика измерений геометрические и оптические параметров поверхностных наноструктур методом ближнепольной сканирующей оптической микроскопии. Аттестовавшая методику организация: ФБУ "Государственный региональный центр стандартизации, метрологии и испытаний в Нижегородской области". Свидетельство об аттестации методики измерения № 735/01.00269/2011 от 12.09.2011 г.
2. Методика измерений геометрических параметров поверхностных самоорганизованных наноостровков SiGe методом атомно-силовой микроскопии. Аттестовавшая методику организация: ФБУ "Государственный региональный центр стандартизации, метрологии и испытаний в Нижегородской области". Свидетельство об аттестации методики измерения № 732/01.00269/2011 от 12.09.2011 г.
3. Методика измерений геометрических параметров поверхностных самоорганизованных наноостровков на основе полупроводников A3B5 методом атомно-силовой микроскопии. Аттестовавшая методику организация: ФБУ "Государственный региональный центр стандартизации, метрологии и испытаний в Нижегородской области". Свидетельство об аттестации методики измерения № 733/01.00269/2011 от 12.09.2011 г.
4. Методика измерений морфологических параметров фиксированных нейтрофильных гранулоцитов крови методом атомно-силовой микроскопии. Аттестовавшая методику организация: ФБУ "Государственный региональный центр стандартизации, метрологии и испытаний в Нижегородской области". Свидетельство об аттестации методики измерения № 730/01.00269/2011 от 12.09.2011 г.
5. Методика измерений морфологических параметров фиксированных лимфоцитов крови методом атомно-силовой микроскопии. Аттестовавшая методику организация: ФБУ "Государственный региональный центр стандартизации, метрологии и испытаний в Нижегородской области". Свидетельство об аттестации методики измерения № 731/01.00269/2011 от 12.09.2011 г.
6. Методика измерений массовой доли германия и кремния в наноразмерных слоях твердых растворов Si(x)Ge(1-x) методом электронной Оже-спекрометрии. Аттестовавшая методику организация: ФБУ "Государственный региональный центр стандартизации, метрологии и испытаний в Нижегородской области". Свидетельство об аттестации методики измерения № 734/01.00269/2011 от 12.09.2011 г.
7. Методика измерений массовой доли марганца и мышьяка в наноразмерных слоях полуметаллического соединения Mn(x)As(1-x) методом электронной Оже-спекрометрии. Аттестовавшая методику организация: ФБУ "Государственный региональный центр стандартизации, метрологии и испытаний в Нижегородской области". Свидетельство об аттестации методики измерения № 772-01.00269-2013 от 30.09.2013 г.
8. Методика измерений массовой доли кобальта и кремния в наноразмерных слоях магнитного полупроводника Co(x)Si(1-x) методом электронной Оже-спекрометрии. Аттестовавшая методику организация: ФБУ "Государственный региональный центр стандартизации, метрологии и испытаний в Нижегородской области". Свидетельство об аттестации методики измерения № 773-01.00269-2013 от 30.09.2013 г.

Стандартные методики измерений

1. Методика исследования поперечного среза твердотельных квантово-размерных гетеронаноструктур на просвечивающем электронном микроскопе JEM-2100F в режимах прямого разрешения, микро- и нанопучковой дифракции
2. Методика исследования элементного состава твердотельных квантово-размерных гетеронаноструктур на просвечивающем электронном микроскопе с применением энергодисперсионного спектрального микроанализа (ЭДС-спектрометр INCAEnergyTEM 250 Х-Мах)
3. Методики препарирования поперечного среза и прецизионного ионного утонения подложечных материалов и сформированных на них твердотельных квантово-размерных гетеронаноструктур. (На основе технологии получения ПЭМ-образцов на оборудовании фирмы Gatan)
4. Методика анализа элементного состава твердотельных образцов методами рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС) и электронной Оже-спектроскопии (ЭОС), в том числе - послойный, с профилированием состава по глубине
5. Методика исследования пространственного распределения элементного состава по поверхности твердотельных образцов с нанометровым пространственным разрешением методом растровой Оже-микроскопии
6. Методика исследования морфологии и электрофизических свойств поверхности твердотельных образцов методом растровой электронной микроскопии (РЭМ)
7. Методика измерения спектров оптического пропускания и отражения твердотельных образцов и жидкостей в ближнем, среднем и дальнем ИК диапазонах методом Фурье-спектроскопии
8. Методика измерения спектров оптического пропускания и отражения, фотолюминесценции и фотоэлектрических эффектов (фотопроводимости, фотоЭДС и т.п.) твердотельных образцов (диапазон температур 8 - 400 К) и жидкостей в УФ, видимом и ближнем ИК диапазонах
9. Методика измерения морфологии поверхности и свойств твердых тел методом сканирующей туннельной микроскопии (СТМ)
10. Методика измерения морфологии поверхности твердых тел методом атомно-силовой микроскопии (АСМ)
11. Методика исследования морфологии, атомной структуры, механических и электрофизических свойств поверхности твердотельных образцов методами сканирующей туннельной микроскопии/спектроскопии (СТМ/СТС) и атомно-силовой микроскопии (АСМ), в том числе комбинированной АСМ/СТМ в сверхвысоком вакууме
12. Методика исследования морфологии и механических свойств поверхности биологических объектов (клеток и т.п.) в жидкой среде методом атомно-силовой микроскопии
13. Методика измерения магнитных свойств поверхности методом магнитно-силовой микроскопии (МСМ)
14. Методика измерения электрических свойств поверхности методом электростатической силовой микроскопии (ЭСМ)
15. Методика измерения электрических свойств поверхности методом сканирующей емкостной микроскопии (СЕМ)
16. Методика измерения электрических свойств поверхности методом микроскопии сопротивления растекания
17. Методика измерения электрических свойств поверхности методом зонда Кельвина (МЗК)
18. Методика измерения электрических свойств поверхности методом баллистической электронной эмиссионной микроскопии (БЭЭМ)
19. Методика измерения свойств поверхности методом атомно-силовой акустической микроскопии